测量电阻率有何意义？
一、测量电阻率有何意义？
电阻率ρ，是表示不同物质电阻特性的物理量。某种物质材料所制成的原件（常温下20°C）的电阻与其横截面积的乘积与长度的比值，叫做这种物质的电阻率。电阻率在数值上等于长度为1米，横截面积为1平方米的电阻所具有的电阻值。其国际单位制的单位为欧.米。电阻率与导体的长度、横截面积等因素无关，是导体材料本身的电学性质，是由导体的材料决定的，且与温度有一定的关系。
二、铜丝测量电阻率计算公式？
1、铜线电阻率的第一种计算方式： 电阻率的计算公式为：ρ=RS/
L ρ为电阻率常用单位Ωm S为横截面积常用单位m2 R为电阻值常用单位Ω L为导线的长度常用单位m 2、铜线电阻率的第二种计算方式： 电阻率的另一计算公式为：ρ=E/J ρ为电阻率常用单位Ωmm2/m E为电场强度常用单位N/C J为电流密度常用单位A/m2 (E，J可以为矢量)
三、电阻率的测量？
1、电阻率的测量方法：测量高电阻常用的方法是直接法和比较法。
直接法是测量加在试样上的直流电压和流过试样的电流而求得试样 ，电阻率直接法主要有检流计法和直流放大法（高阻计法）比较法主要有检流计法和电桥法。
2、电阻率的精度：对于大于10的10Ω的电阻，仪器误差应在±20%的范围内；对于不大于10的10Ω的电阻，电阻率的误差应在±10%的范围内。
3、保护：测量仪器用的绝缘材料一般只具有与被测材料差不多的性能。试样的测试误差可以由下列原因产生：
①外来寄生电压引起的杂散电流通渠道。通常不知道它的大小，并且有漂移的特点；
②测量线路的绝缘材料与试样电阻标准电阻器或电流测量装置的并联。
四、土壤电阻率怎么测量？
测量土壤电阻率的方法之一是对接地体进行接地电阻测量，测得接地体接地电阻后，再按下面的公式计算土壤电阻率。
1、用钢管或圆钢作接地体时：ρ=2πRjL/（ln（4L/d））=RjL/（0.336lg（4L/d））Ω·cm。L为钢管或圆钢入地长度，单位m；d为钢管或圆钢直径，单位m；Rj为测出的接地电阻值，单位Ω。
2、用扁钢作接地体时：ρ=2πRjL/（ln（2L^2/(bh)））=RjL/（0.336lg（2L^2/(bh)））Ω·cm。L为扁钢长度，单位m；b为扁钢厚度，单位m；h为埋设深度，单位m。
五、高中电阻率测量的原理？
是用电流来测电阻的 测电阻的电路是用一个电源的两个级 ，一极 直接接探头 ，也就是用来测的那个像笔的东西 ，一级接对电流的感应装置 ，液晶的 是接感应电流的原件 由万用表里的微电脑转化为显示的数字 然后从感应装置的另一端接探头 这是一个串联电路
六、纯水电阻率仪如何测量？
方法常见的有二种：一种是化学成分分析法，一种是电导法。
化学分析法可以较为确切的测量水里各种各样不一样残渣的成份和成分，但假如剖析全过程较为复杂时，实际操作会很繁杂，不适感用以迅速的纯水质量检验。
现阶段应用非常普遍的便是电导率仪，它具备检验速度更快，测量时间长，使用方便等特性。
水的电导率体现了水里碳酸盐的总产量，是水体纯度检测的一项关键指标值。水的电导率越小，表明水的纯度越高，下列是各种各样水的电导率范畴：
纯水电导率检验常用仪器设备与实验试剂
1.电导率仪
2.铂黑电导电级
3.温度计
4.小量杯
5.0.001mol.L-1KCL饱和溶液
6.纯水
七、视电阻率联合剖面测量优缺点？
优点：电测深法相同，该方法在工作中是采用不 变的电极距，并使整个装置沿着观测剖面移动，逐点观测视电阻率ρS的变化。
由于电极 距固定不变，勘探深度就保持在同一个范围内，因而ρS值沿剖面的变化可以把地下某一 深度以上具有不同电阻率的地质体沿剖面方向的分布情况反映出来。
八、实验测量金属的电阻率所需仪器？
测量金属的电阻率要求把该金属材料做成特定长度（1米）特定截面（1平方毫米）的条状试件，一般用双回路电桥测量试件的电阻值即该材料的电阻率。该电桥的特点是可以较准确测量很小的电阻值。
当然也可以用其它方法测量。例如在实验室用恒流发生器，使恒定的电流流过试件，再用毫伏表测量试件电压，试件的电阻等于该电压除以该电流，也就是该金属电阻率。
九、测量金属电阻率分压还是限流？
1、、限流和分压都有，只不过为了减小误差我们主要强调分压
2、限流主要是出于电路的安全考虑，比如电流太大会烧仪表，所以把闭合开关时滑动变阻器阻值调最大。所以限流也对，为了保护电路。
3、分压主要是为了调滑动变阻器阻值来分配电压，测出不同电压下的电流，多次测量算出电阻取平均值能使电阻更准，这样算出来金属电阻率误差小。所以这个试验也用到了分压的作用。
十、怎么测量半导体薄膜的电阻率？
测量半导体电阻率的方法很多，按是否与样品接触可以分为两类，即接触式和非接触式。常用的电阻率测量方法有直接法、二探针法、三探针法、四探针法、多探针阵列、扩展电阻法、霍尔测量、涡流法、微波法、电容耦合C-V测量等。对于体单晶的电阻率测量，生产中应用最普遍的是四探针法；对于半导体晶片的电阻率测量，微波法等非接触式测量方法由于使用方便、不损坏样品，因而应用也越来越多。
希望对您有帮助。
