集成电路IC的好坏如何测试？

一、集成电路IC的好坏如何测试？

1、首先要掌握该电路中IC的用途、内部结构原理、主要电特性等，必要时还要分析内部电原理图。除了这些，如果再有各引脚对地直流电压、波形、对地正反向直流电阻值，那么，对检查前判断提供了更有利条件;

2、然后按故障现象判断其部位，再按部位查找故障元件。有时需要多种判断方法去证明该器件是否确属损坏。

3、一般对电路中IC的检查判断方法有两种：一是不在线判断，即电路中IC未焊入印刷电路板的判断。这种方法在没有专用仪器设备的情况下，要确定该电路中IC的质量好坏是很困难的，一般情况下可用直流电阻法测量各引脚对应于接地脚间的正反向电阻值，并和完好集成电路进行比较，也可以采用替换法把可疑的集成电路插到正常设备同型号集成电路的位置上来确定其好坏。当然有条件可利用集成电路测试仪对主要参数进行定量检验，这样使用就更有保证。

二、IC电路中测试PSR主要指什么？

PSR是原边反馈。

原边反馈（PSR）的AC/DC控制技术是最近10年间发展起来的新型AC/DC控制技术，与传统的副边反馈的光耦加431的结构相比，其最大的优势在于省去了这两个芯片以及与之配合工作的一组元器件，这样就节省了系统板上的空间，降低了成本并且提高了系统的可靠性。

三、IC测试夹具，什么是IC测试夹具？

集成电路，英文为Integrated Circuit，缩写为IC；就是把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。IC测试夹具就是用于测试集成电路的夹具，如手机、电脑南北桥、Mp3、MP4、DVD、DVB、打印机、通讯超级终端、工控主板、显卡、数码相机、机顶盒等的BGA/QFN IC测试治具

四、ic测试流程？

分为晶圆测试（wafertest）、芯片测试（chiptest）和封装测试（packagetest）。

wafertest是在晶圆从晶圆厂生产出来后，切割减薄之前的测试。其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的，一般是将晶圆放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试。

对于光学IC，还需要对其进行给定光照条件下的电气性能测试。

晶圆测试主要设备：探针平台。

辅助设备：无尘室及其全套设备。

晶圆测试是效率Z高的测试，因为一个晶圆上常常有几百个到几千个甚至上万个芯片，而这所有芯片可以在测试平台上一次性测试。

五、Ic如何测试？

1. 有专业的IC测试设备，价格非常昂贵，一般只有专业的测试机构或IC生产厂家才会购买这类设备。

2.如果您是IC的终端用户（电子厂），就没有必要买这样的设备，IC的品质由货源（供应商）决定的，找个正规的品牌，正规的代理商并且管控好你的供应商，设计使用时参考IC的DATASHEET就好了。

3.如果是为了做失效分析，大部分情况下都用晶体管图示仪来测试IC各引脚的特性曲线，通过特性曲线判断IC好坏。

六、ic电路原理？

电路中的IC种类繁多，性能各异。但是都有各自的逻辑关系，比如满足一个条件就要有一个相对应的输出，或者数学计算等逻辑。配上电源电路，有的还要有时钟电路，复位电路，就基本构成了相对应的完整电路了。

七、ic漏电测试原理？

当用电器PRODUCT有漏电情况，漏电测试仪表METER的测试棒A与用电器外壳或其他位置接触，漏电流经A和GROUNDED SUPPLY CONDUCTOR 供电零线做成回路，漏电测试仪表就显示相应漏电电流读数。

八、ic总线电路原理？

芯片的工作原理是：将电路制造在半导体芯片表面上从而进行运算与处理的。

集成电路对于离散晶体管有两个主要优势：成本和性能。成本低是由于芯片把所有的组件通过照相平版技术，作为一个单位印刷，而不是在一个时间只制作一个晶体管。

IC芯片(Integrated Circuit Chip)是将大量的微电子元器件（晶体管、电阻、电容等）形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片。IC芯片包含晶圆芯片和封装芯片，相应 IC 芯片生产线由晶圆生产线和封装生产线两部分组成。

芯片中的晶体管分两种状态：开、关，平时使用1、0 来表示，然后通过1和0来传递信号，传输数据。芯片在通电之后就会产生一个启动指令，所有的晶体管就会开始传输数据，将特定的指令和数据输出。

扩展资料

根据一个芯片上集成的微电子器件的数量，集成电路可以分为以下几类：

1、小型集成电路（SSI英文全名为Small Scale Integration）逻辑门10个以下或 晶体管100个以下。

2、中型集成电路（MSI英文全名为Medium Scale Integration）逻辑门11~100个或 晶体管101~1k个。

3、大规模集成电路（LSI英文全名为Large Scale Integration）逻辑门101~1k个或 晶体管1,001~10k个。

4、超大规模集成电路（VLSI英文全名为Very large scale integration）逻辑门1,001~10k个或 晶体管10,001~100k个。

5、极大规模集成电路（ULSI英文全名为Ultra Large Scale Integration）逻辑门10,001~1M个或 晶体管100,001~10M个。

6、GLSI（英文全名为Giga Scale Integration）逻辑门1,000,001个以上或晶体管10,000,001个以上

九、IC集成电路可以去哪家买？

电源管理这块凌特的比较强悍，日用廉价消费各类器件台系比较强悍，可编程逻辑器件高速数字信号处理通信基带信号处理美系的一直强悍盘踞顶端，德州国半逻辑器件三强英特爱门弟等等又多又高端，国产的各种都有一些，低端能用不强，可喜的是华为的基带信号处理追上来了，开始强悍，欧系的ST和NXP盘踞中端位置也比较强悍典型，品种和高度不如美系

十、光纤IC如何测试好坏？

1. 有专业的IC测试设备，价格非常昂贵，一般只有专业的测试机构或IC生产厂家才会购买这类设备。

2.如果您是IC的终端用户（电子厂），就没有必要买这样的设备，IC的品质由货源（供应商）决定的，找个正规的品牌，正规的代理商并且管控好你的供应商，设计使用时参考IC的DATASHEET就好了。

3.如果是为了做失效分析，大部分情况下都用晶体管图示仪来测试IC各引脚的特性曲线，通过特性曲线判断IC好坏。